Wang Y., Wang Q., Shi Q., Zhang H., Shen Y., Pi W., Shu A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, tapes, fabrication, comparison, MOCVD process, MOD process, PLD process, critical caracteristics, Jc/B curves, angular dependence, current-voltage characteristics, temperature dependence, measurement setup
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2024, v.34, N 3, p.8000906
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.